【微机械展】“蚀刻速度56μm/分” 面向贯通电极芯片
发布人:worker 日期:2005-11-17 关键字:芯片 来源:日经BP
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该公司改进了原来推出的ICP(感应耦合等离子体)式蚀刻装置。通过改进作为等离子源的线圈的形状,将等离子密度提高了1个数量级。56μm/分的蚀刻速度是在150mm晶圆、开口率1%时实现的。除面向量产用途外,还将作为研发用装置供应。面向量产用途的装置计划2006年春季向多家元器件厂商供货。此外,关于面向MEMS元器件量产的设计、制造基础设施,《日经微器件》12月刊将做介绍。(记者:三宅 常之)
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